Olympus 45MG-X-ET-E-DE 厚度测量仪

测量技术 厚度测量仪 Olympus 45mg X Et E De。 Olympus 45MG-X-ET-E-DE是一款多功能的超声波厚度测量仪,专为在苛刻的工业环境中使用而设计。它可以快速、准确地测量包括金属、塑料和复合材料在内的各种材料的壁厚。 该设备配备了先进的超声波技术和坚固的外壳,非常适合进行无损检测。它支持多种测量模式和探头,以覆盖广泛的厚度范围和表面条件。 通过直观的用户界面简单操作,以及数据存储和传输的功能,使得45MG-X-ET-E-DE成为质量控制和维护任务的高效工具。它是测量腐蚀和材料磨损的可靠解决方案。

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技术数据

KTB ID:

1739994

制造商信息

日本和歌山县和歌山市四宫49-3,邮政编码640-8533

说明

Olympus Corporation,成立于1919年,是一家全球领先的光学和数字精密技术供应商。专注于医疗技术、科学解决方案和相机。总部位于日本东京。

元数据

OLYMPUS Ultrasonic thickness Gage;45MG-X-ET-E-DE

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测量技术

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